激光诱导击穿光谱结合薄膜制样用于检测大米中的镉含量
激光诱导击穿光谱(LIBS)结合传统的压片制样方法用于检测大米中镉(Cd)含量的灵敏度较低,为此提出使用薄膜制样的方法来提高LIBS检测大米Cd含量的灵敏度.通过在载玻片上刮涂大米悬浮液,制备了大米薄膜样品,探讨了薄膜制样在提高大米Cd含量检测灵敏度与准确度方面的可行性.分别在压片样品和薄膜样品上,对光谱仪延时时间和激光能量做了优化,分析了最佳激光能量不一致的原因.优化实验条件后,对比了压片样品和薄膜样品的LIBS光谱差异,通过实验分析了薄膜增强的原理.相较于传统的压片制样,薄膜制样的Cd谱线强度提高了5~7倍,检测限降低了1/9.薄膜制样的方法改善了LIBS技术检测大米中Cd含量的能力.
光谱学、激光诱导击穿光谱、薄膜制样、大米、镉
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O433(光学)
2021-11-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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