基于投影栅相位法和独立分量分析的强反射表面形貌测量

摘要：

提出了一种结合独立分量分析(ICA)算法的投影栅相位法,用于实现强反射表面三维形貌的测量.分析了强反射表面的反射光(主要由镜面反射光以及漫反射光组成)的模型及其特点.针对镜面反射光的偏振特性,通过在CCD摄像机镜头前加装偏振片,可以对镜面反射光进行初步的滤除.同时旋转偏振片,以获得不同角度下的偏振图像.利用反射光模型并结合独立分量分析算法,将镜面反射光分量以及漫反射光分量进行分离.最后使用漫反射光分量图像对物体进行三维重建.实测了一块表面光滑的铝合金工件,验证了该方法的可行性.

关键词：测量、投影栅相位法、独立分量分析、强反射表面

所属期刊栏目：57

分类号：TB92;O436.3(计量学)

资助基金：国防科学技术预先研究基金

在线出版日期：2020-06-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：121-127