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10.3788/LOP54.011202

基于光栅预校正的三维面形测量方法

引用
针对传统的采用发散照明的相位测量轮廓术投影到参考面上的光场产生畸变的情况,提出一种利用逆推法从参考面上的位置坐标与光栅条纹坐标分布之间的映射关系建立投影光栅模型的方法,确保校正光栅投影到参考面上的条纹满足周期性分布.通过相位-高度映射关系恢复出被测物体的面形分布.该方法无须像传统测量方法一样将相位-高度之间的映射关系以数据表形式存储在计算机中,放宽了系统测量的约束条件,简化了测量装置,并能实现高精度测量.计算机模拟和实验均证实了该方法的有效性.

测量、三维测量、光栅投影、相位测量轮廓术、逆推法

54

O438.2(光学)

中央高校基本科研业务费专项;江苏省高等学校自然科学研究面上项目;淮安市应用研究与科技攻关工业项目;淮阴师范学院青年优秀人才支持计划

2018-07-30(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共1页

011202.1-011202.5

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