面阵电荷耦合器件的辐射性能函数

摘要：

电荷耦合器件(CCD)作为一个将光学图像转换到电子学图像的传感器,其成像质量与辐射响应参数的性能直接相关.针对面阵CCD越来越广泛的应用,提出利用“辐射响应矩阵”的概念和评价方法,表述面阵CCD每个像元的辐射性能参数.分析该矩阵,明确矩阵各元素的物理意义,并将面阵CCD每个像元的绝对辐射响应度、响应非线性度、暗噪声、信噪比以及非均匀性的数学关系与其物理含义一一对应.对面阵CCD DALSA-FTF6080M进行辐射性能检测,并利用辐射响应矩阵计算出各像元的响应系数.以测试结果为例,讨论和描述该矩阵的应用结果.实验结果表明:使用辐射响应矩阵可以计算出面阵CCD非均匀性为3.1％,该CCD近似成线性响应,暗噪声为3.84.此方法实用,满足对面阵CCD的客观评价.

关键词：面阵CCD、辐射相应矩阵、CCD光电性能、响应度

所属期刊栏目：51

分类号：TP753;TN386.5(遥感技术)

在线出版日期：2014-09-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：25-30