基于最优识别区间的变步长产品表面缺陷检测研究
为实现对产品表面多个待检区域准确快速的检测,在最优识别区间内采用变步长机制快速获取待测产品的周向方位图像序列,实现在有限方位下利用不完全数据对多个待识别区域的快速检测.首先通过相关度计算及投影法确定各待检区域的最优识别区间和旋转步长,其次采用尺度不变特征变换(SIFT)算法与折半查找法确定随机摆放的待检产品在标准库中的最优位置信息,最后通过相关度计算判别各区域有无缺陷.实验表明在保证检测准确率的前提下,基于最优识别区间的变步长方法比传统全周向固定步长检测平均可节省6.37s.
图像处理、缺陷检测、最优识别区间、变步长采样、尺度不变特征变换算法、折半查找法
50
TP391.41(计算技术、计算机技术)
国家自然科学基金61171178,61171179;山西省自然科学基金2012011010-3;2012年山西省高等学校优秀青年学术带头人支持计划
2013-11-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共7页
86-92