基于全光纤型系统的光纤Verdet常数测量
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3788/LOP50.100601

基于全光纤型系统的光纤Verdet常数测量

引用
为对光纤磁敏感性进行研究,基于法拉第效应原理,利用琼斯矩阵建立了全光纤型光纤Verdet常数测量系统的传输模型.对输入端光纤、输出端光纤、被测光纤对系统输出的影响进行了分析与仿真,结果表明测量系统中输入端保偏光纤对系统输出有影响,输出端光纤及光纤种类不影响系统输出,并确定了被测光纤的有效被测长度.搭建测量系统对单模光纤进行测量,测量的单模光纤Verdet常数为0.52±0.01 rad/(T·m),多根光纤测量结果在0.52~0.56 rad/(T·m)之间,且不同驱动电压下的测量结果与驱动电流成线性关系,说明系统线性度好.实验结果证明了此系统具有很好的可靠性与稳定性.

光纤光学、Verdet常数、全光纤结构、琼斯矩阵

50

O434(光学)

国家863计划

2013-11-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共7页

49-55

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

激光与光电子学进展

1006-4125

31-1690/TN

50

2013,50(10)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn