基于功率谱密度分析真空吸盘对加工KDP晶体表面的影响
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3788/LOP48.092201

基于功率谱密度分析真空吸盘对加工KDP晶体表面的影响

引用
由于KDP(KH2PO4)晶体硬度低的特性,在利用单点金刚石切削技术对其进行加工的过程中,所使用的真空吸盘夹具会在其加工表面产生周期性波纹.周期性波纹在强激光非线性效应的作用下,不但会严重影响输出光束的质量,甚至还会破坏光学元件.因此,利用功率谱密度检测KDP晶体的加工表面,分析误差源,并指导加工工艺的改进.最后得出结论:在利用单点金刚石切削技术加工KDP晶体时,应根据不同的加工方式选择不同形状的真空吸槽作为夹具,尽量避免在垂直切削方向上使用真空吸槽吸附晶体,以减小吸槽的吸附力对晶体加工表面的影响.

光学制造、KDP晶体、真空吸盘、功率谱密度、表面波纹度

TG756(刀具、磨料、磨具、夹具、模具和手工具)

2012-01-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

108-112

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

激光与光电子学进展

1006-4125

31-1690/TN

2011,(9)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn