光学元件亚表面损伤检测技术研究现状

摘要：

在传统光学加工过程中产生的亚表面损伤(SSD)会降低光学元件的使用性能和寿命,需要对其亚表面损伤进行检测从而在加工过程中加以控制.从破坏性和非破坏性检测方法两方面概括性地分析了光学元件亚表面损伤的检测技术,对各种检测方法进行了分析和讨论,并指出了各种方法的优缺点.指出了国内的亚表面损伤检测技术与国际先进水平相比存在的差距,并分析了亚表面损伤检测技术的发展趋势.

关键词：光学元件、亚表面损伤、破坏性检测、非破坏性检测

所属期刊栏目：48

分类号：TN244(光电子技术、激光技术)

资助基金：国家科技重大专项项目2009ZX02205

在线出版日期：2012-01-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：15-21