CCD和电寻址液晶在全息位移测量中的应用

摘要：

将CCD与电寻址液晶(EALCD)相结合,CCD作为记录介质,用于全息图和全息再现像的记录,EALCD则代替传统光学全息中曝光后的全息干板,用于数字全息图的再现.这种方法不仅避免了传统全息记录材料显影、定影等过程,也避免了全息材料非线性记录等缺点,并可以实现普通的数字全息较难实现的基于相位移法的位移测试.利用双曝光数字全息干涉法,在实验中对反射式被测物体生成的菲涅耳全息图进行了光学再现,并得到了准确的数据,验证了该方法的实用性.实验结果表明,CCD与EALCD相结合,可以实现数字全息图的光学再现,通过获得的干涉条纹,可精确测定物体位移量.

关键词：全息干涉、位移测量、电耦合器件、电寻址液晶、菲涅耳全息图、光学再现

所属期刊栏目：47

分类号：TN26(光电子技术、激光技术)

资助基金：总装备部十一五预研基金9140A17060306BQ0303

在线出版日期：2011-05-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：61-65