10.3969/j.issn.1006-852X.2010.05.009
大面积金刚石膜/Si衬底复合片均匀性研究
对直流电弧等离子体喷射化学气相沉积技术,在φ76.2 mm的Si衬底上沉积得到的金刚石膜,通过SEM和激光Raman表征其质量均匀性.为缓解金刚石膜 /Si复合片的内应力,采用台阶式冷却的方式,对样品在1 050 ℃进行真空退火处理,使样品内的压应力从3.09 GPa减小到1.16 GPa.对样品生长面进行机械抛光,采用表面轮廓仪检测其表面粗糙度均匀性.结果表明:在φ76.2 mm的金刚石膜/Si复合片上获得的表面粗糙度小于5 nm.
金刚石膜、均匀性、真空退火、表面粗糙度
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TQ164
国家高技术研究发展计划(863计划)2008AA03Z408
2011-01-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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