缺陷对光子晶体透射能带谱的简并效应研究

摘要：

为了设计高品质、高性能的光学滤波器和光开关,利用传输矩阵法通过数值计算模拟的方式绘制1维光子晶体的透射能带谱,研究和分析了两缺陷之间距离和缺陷的厚度对光子晶体透射能带谱的简并效应.结果表明,当两缺陷之间距离越大,透射能带谱简并效应越明显,当间距增大到一定数值时,出现分立透射峰完全简并现象;当缺陷厚度整数倍增大时,光子晶体透射能带谱出现简并的趋势,但缺陷厚度奇数倍增大与偶数倍增大时,透射能带谱简并速度不一样,前者的简并速度小于后者的简并速度;缺陷厚度无论是奇数倍增大还是偶数倍增大,光子晶体透射能带谱简并的速度均逐渐减小.缺陷对光子晶体透射能带谱简并效应的调制规律,为光子晶体设计新型光学滤波器件、光学开关及其调制机制等提供了指导.

关键词：材料、光电子学、传输矩阵法、缺陷模、简并、光子晶体

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分类号：O474(半导体物理学)

资助基金：国家自然科学基金资助项目51161003;广西高校科学技术研究资助项目KY2015YB258;大学生创新创业训 练 计 划 资 助 项 目201510605013, 201510605040,201510605061

在线出版日期：2017-01-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：56-60