10.3969/j.issn.1001-3806.2010.03.032
对称双缺陷光子晶体的缺陷模规律
为了了解对称双缺陷光子晶体的传输特性,采用传输矩阵法进行了数值模拟研究.当两缺陷层中间的介质层数目大于缺陷两外侧介质层总数时,在禁带中只出现单一的缺陷模,且其透射率随它们的差异的增大而迅速减小;但当中间的介质层数目小于两外侧介质层总数时,在禁带中将会出现两个透射率为1的缺陷模,且两缺陷模的间距随它们的差异的增大而增大.结果表明,缺陷层的位置对缺陷模的影响较大,要使缺陷层中的局域电场得到有效提高,必须使缺陷层靠近光子晶体的正中心.
物理光学、光子晶体、缺陷模、传输矩阵
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O431.2(光学)
江苏省高校自然科学基础研究面上资助项目07KJD140036;江苏工业学院理工扶持基金资助项目JS200802
2010-06-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
398-400,404