10.3969/j.issn.1001-3806.2009.04.007
基于相位解卷的位移测量系统
为了实现适度光反馈机制下对微位移进行测量的目的,采用了相位解卷的位移测量方法.该方法是在对系统参量C和峤刑崆胺掷氩饬康幕∩?通过寻找自混合干涉信号的特殊点,即峰值点、谷值点及转折点,恢复了含光反馈时的外腔相位,对外腔相位进行进一步的处理得到了外部运动物体的位移信息.仿真分析及实验结果验证了该测量方法的可行性.结果表明,对于十几微米的振动,该系统的测量误差仅为±30nm.这一结果对高精度微位移及微振动的测量是有帮助的.
测量与计量、干涉、位移测量、相位解卷、特殊点
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TN247(光电子技术、激光技术)
国家自然科学基金资助项目60871031
2009-09-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
359-361,365