10.3969/j.issn.1001-3806.2007.06.031
波片位相延迟测量的双λ/4波片法
在对波片延迟量的测量中常因光源起伏影响测量精度,出现较大的测量误差,为了避开光源强度起伏的影响,提高系统的测量精度,减小测量误差,用两个标准λ/4波片与待测波片组合,使其满足一定条件等效为旋光器,搭建了一套测量系统,用角度测量替代对光强的直接测量.实验结果表明,该系统可有效避免光源强度起伏对测量结果的影响,测量精度可达0.5°.与传统测量方法相比,该测量系统具有构造简单,不受光源起伏影响,以及测量精度高等特点,是一种便捷有效的测量方法.
激光技术、偏振光、波片、位相延迟
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O432.2(光学)
2008-03-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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