激光辐照TiO2/SiO2薄膜损伤时间简捷测量

摘要：

为了测量激光辐照薄膜的起始时间,采用了一种简洁易行的测量方法,利用波长1.06μm和1.315μm连续激光以及1.06μm单脉冲激光辐照典型薄膜光学元件,通过探测器接收激光脉冲信号和薄膜表面的激光反射信号,薄膜表面反射信号在激光辐照过程中的某个时刻发生突变,发生突变的时间对应着薄膜发生损伤的时间.得到1.06μm连续激光强度为7133W/cm2时,反射信号在0.8s发生突变,强度为11776W/cm2时,反射信号在0.4s发生变化;1.06μm单脉冲激光能量为48.725mJ,97.45mJ,194.9mJ时,薄膜损伤时间为3.63ns,2.727ns和1.09ns;1.315μm连续激光强度为2743W/cm2时,反射光信号在辐照时间t=3.44s发生突变;强度为4128W/cm2时,薄膜表面反射光信号在辐照时间t=1.44s发生突变.结果表明,通过测量薄膜表面反射信号的突变来确定薄膜损伤的起始时间,对于薄膜抗激光加固,以及提高光电系统的抗激光能力有着重要的意义.

关键词：薄膜、激光、时间测量、损伤

所属期刊栏目：31

分类号：O484.5(固体物理学)

在线出版日期：2007-09-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：381-383