10.3969/j.issn.1001-3806.2004.02.022
低膨胀固体材料线膨胀系数的干涉测量方法
固体材料的线膨胀系数在精密仪器产业及高精度实验领域是一个非常重要的物理量,要实现对线膨胀系数较低的固体材料进行测量,通常采用激光干涉的方法.采用光路补偿的方法,即激光干涉仪中两干涉臂同支架来测量低膨胀固体材料的线膨胀系数,不但能够抵消支架膨胀对材料受热伸长的影响,还有效地抵消了地面振动对干涉仪的影响,并能够对线膨胀系数在10-6/℃量级的材料的线膨胀系数进行测量.如果改进试验工艺,且采用条纹稳定技术,该方法可以用于更高量级的线膨胀系数的测量.
线膨胀系数、激光干涉仪、光路补偿、低膨胀固体材料、陶瓷
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TH744.3(仪器、仪表)
2004-05-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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