用透射光谱和模拟退火算法确定薄膜光学常数

摘要：

提出了用透射光谱曲线和模拟退火算法同时确定薄膜材料折射率n、消光系数k及薄膜厚度d的方法,并给出了严格的理论公式和计算程序框架图.为了验证此方法的准确性和可行性,先进行了计算模拟,然后对SiNx薄膜进行了测量.模拟结果与理论值非常接近,根据实验结果恢复出来的曲线与原始实验曲线吻合得很好.此方法具有非破坏性、测量简单、操作方便、稳定性好和计算收敛速度快、精度高等特点.

关键词：透射光谱、模拟退火、薄膜、光学常数

所属期刊栏目：27

分类号：O484.32(固体物理学)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：94-96,112