10.3321/j.issn:0577-7402.2002.10.032
电磁脉冲诱导小脑颗粒细胞凋亡的研究
以体外原代培养的小脑颗粒细胞为对象,研究电磁脉冲(场强为6×104 V/m)辐照后早期小脑颗粒细胞死亡和凋亡的变化情况.于照射后1、6、12、24和48h分别采用MTT法和流式细胞仪测定细胞活力和凋亡细胞的比例,用HE染色及TUNEL检测细胞凋亡并分别用普通光学显微镜和荧光显微镜进行凋亡观察,探讨电磁脉冲的可能致伤机制.结果显示,电磁脉冲辐照后,小脑颗粒细胞不仅发生快速的坏死,而且还发生细胞凋亡,于辐照后12h达到高峰.结果提示,电磁脉冲辐照后早期可导致小脑颗粒细胞凋亡和坏死,此改变可能与电磁脉冲致细胞DNA损伤有关.
辐射、小脑颗粒细胞、凋亡
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Q64(生物电磁学)
军队指令性项目01L023
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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930-932