基于时频域混合分析的太阳能硅片缺陷检测方法

摘要：

针对太阳能硅片的水印缺陷,提出一种基于时频域混合分析的检测方法.在此基础上,设计太阳能硅片表面缺陷检测硬件系统.对采集的硅片图像,首先在时域进行图像预处理,然后利用实数快速傅里叶变换得到频率谱图像;在频域里,设计高斯滤波器滤波,再通过傅里叶逆变换获得重构图像,转换到时域,进行差分得到差分图像;最后通过阈值化和形态学操作获得缺陷区域.实验结果表明:此方法对包含水印缺陷的太阳能硅片样本进行缺陷检测的准确率高,具有较高的实用价值.

关键词：缺陷检测、时频域混合分析、离散傅里叶变换、高斯滤波器、太阳能硅片

所属期刊栏目：48

分类号：TP391.4(计算技术、计算机技术)

资助基金：2016年佛山职业技术学院科研重点课题项目;2017年佛山职业技术学院高层次人才引进科研专项

在线出版日期：2020-06-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：187-192