超声波光整强化40Cr工件表面残余应力的研究

摘要：

研究了超声波光整强化工艺对40Cr表面粗糙度及残余应力的影响,实验发现,初始粗糙度为2.48 μm的轴件处理后可以降为0.04 μm.采用盲孔法对表面残余应力进行测试,结果表明:未经处理的部分表面残余应力整体为拉应力,其中σ1值稳定在30 MPa左右,为拉应力;σ2随着层深增加由压应力转变为拉应力,且数值在10 MPa以下.经过处理后的表面残余应力均为压应力,该工艺对材料的影响层深度介于1至1.5mm之间,主应力σ1和σ2值近似且稳定于160至170 MPa之间,随着钻孔深度的增加,残余压应力测试值有略微降低的趋势.

关键词：盲孔法、超声波光整强化、40Cr、表面残余应力

所属期刊栏目：43

分类号：TG376.3(金属压力加工)

在线出版日期：2015-06-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：77-81