高档数控系统可靠性试验的条件与方案研究

摘要：

数控系统的可靠性是衡量数控系统质量的重要属性，其可靠性结论的得出需要进行规范的可靠性试验。目前，对于MTBF要求在10000 h以上的高档数控系统，其MTBF指标验证在实施上困难较大，试验周期长，亟需一套完整可参考的数控系统可靠性试验方案。根据数控系统与可靠性试验的相关标准与实际产品功能，给出了数控系统可靠性试验条件与方案的参考原则；基于可靠性鉴定试验的基本思路，提出了数控系统可靠性试验的试验条件与试验方案，并且给出了典型的组合环境试验剖面和运行试验剖面，为数控系统的可靠性试验提供了通用参考。

关键词：高档数控系统、可靠性试验、方案研究

分类号：TH-39

资助基金：国家科技重大专项2010ZX04014-017；北航基本科研业务费资助项目30420120628

在线出版日期：2014-09-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：189-193