电压反馈型运放电参数可靠性测试方法

摘要：

芯片生产时由于工艺、设备客观存在的参数波动性造成成品中会存在有缺陷的芯片.装机时使用有缺陷的芯片严重时会损坏整机系统.电参数可靠性试验即为剔除芯片典型电参数超差而进行的筛选试验.针对这部分内容测试目前总结综述类文章较少且不全面的问题,文章总结电压反馈型运放环设计方法及运放的测试方法,对电压反馈型运算放大器电参数测试方法分析,结合模拟电路分析方法给出电压型反馈运放参数计算公式和测试原理,最后设计运放环对比某型号ATE配套运放环对AD公司高速运放AD8066ARZ进行典型电参数测试验证其正确性.

关键词：运算放大器;可靠性;电参数;电压反馈型

所属期刊栏目：42

分类号：TM343(电机)

在线出版日期：2022-03-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：147-151,194