基于软件圈复杂度相关的不完美排错可靠性增长模型

摘要：

首次将软件可靠性模型与软件圈复杂度进行了关联,将软件圈复杂度划分为三个等级:普通、复杂、特别复杂.针对不同等级的圈复杂度,分别从代码状况、可测性、可维护性、对测试人员能力的要求、对开发人员能力的要求5维角度进行了充分分析,从而给出了基于软件圈复杂度相关的不完美排错可靠性增长模型.在进行可靠性模型建模的同时综合考虑了故障的检测率、故障排错率、排错时故障的引入率三大因素,最后将该方法应用于一组实验数据进行分析,证明了该方法的可用性,同时将该模型的拟合数据与现有模型的拟合数据进行了比较,证明了该方法的有效性.

关键词：软件圈复杂度、Logistic增长模型、不完美排错、故障检测率、排错率

所属期刊栏目：39

分类号：TN911-34

资助基金：国家自然科学基金项目61773384;国防重点研发计划JSZL2017207B013

在线出版日期：2019-12-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：135-141