基于交互式数字测试格式的系统设计

摘要：

为有效地解决DTIF数据可读性差的问题,并可将测试开发人员人工分析的GO-NODO测试数据和基于故障字典的诊断数据直接转换为ATE设备所支持的DTIF文件,为此作为数字电路TPS开发的辅助工具,将有利于提高测试开发的效率;同时,也可以作为除LASAR和数字电路故障诊断测试集自动生成软件系统Octopus之外,另一种DTIF测试数据的生成工具.对有效提高数字电路板TPS开发效率具有现实意义.

关键词：交互式数字测试、数字电路、IEEE1445标准、设计

所属期刊栏目：30

分类号：TN79(基本电子电路)

在线出版日期：2010-12-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：159-162