10.3969/j.issn.1627-9730.2009.09.047
集成电路老化温度与耗散功率、频率关系的研究
在集成电路的可靠性试验中,耗散功率随着集成电路技术发展而增长,这也是由于温度和集成电路频率作用的关系.因此,在老化环境中,耗散功率会加大对老化的影响.文章将重点讨论在老化环境中,温度和频率的调整对集成电路老化所产生的作用.
集成电路老化、温度、耗散功率、频率
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TN43(微电子学、集成电路(IC))
2009-11-09(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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