基于SoC FPGA存储器系统中的纠错码

摘要：

半导体工艺技术的不断进步提高了嵌入式系统中元器件的集成度,增强了功能和性能.虽然总体性能的提高使得各方面收益颇丰,但是,高性能系统不利的一面是需要更加关注软误码概率.降低供电电压导致集成电路更容易受各类电磁和粒子辐射的影响.嵌入式系统中的存储器容量高达100多兆字节,由于自然发生alpha粒子导致的软误码可能会超出能够承受的水平.接口速率超过每秒1 Gigabits后,较强的噪声和抖动会导致在传输线和外部存储器之间出现误码.本文深入探讨了软误码产生的原因及其含义,以及Altera公司和Micron科技公司通过误码探测和纠正,增强嵌入式系统对这类软误码的抵抗能力而采用的方法.

机标关键词：存储器系统、纠错码、fpga

分类号：TP333;TN911.22;TN47

在线出版日期：2013-05-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：33-36