有序介孔碳-壳聚糖修饰玻碳电极差分脉冲溶出伏安法测定痕量钯(Ⅱ)

摘要：

将有序介孔碳(OMC)分散于壳聚糖(CTS)溶液中,修饰在玻碳电极表面,制成有序介孔碳-壳聚糖修饰玻碳电极(OMC-CTS-GCE),研究了钯(Ⅱ)在该电极上的电化学行为,探讨了电极反应机理,对测定条件进行了一系列优化,提出了一种测定痕量钯(Ⅱ)的方法.在0.1mol·L-1乙酸钠-0.1 mol·L-1的盐酸缓冲溶液中(pH=4.5),钯(Ⅱ)在OMC-CTS-GCE电极上,于0.49V处产生一灵敏的溶出峰,峰电流与钯(Ⅱ)的浓度在2.0×10-6 ～ 1.8×10-4mol·L-1范围内呈良好的线性关系,检出限(S/N=3)为1.5×10-6 mol· L-1,方法应用于矿样中痕量钯(Ⅱ)的测定,结果同火焰原子吸收光谱法(FAAS)的测定结果基本一致.

关键词：有序介孔碳、壳聚糖、修饰玻碳电极、钯(Ⅱ)

所属期刊栏目：27

分类号：O657.1(分析化学)

资助基金：济南大学博士基金项目XBS1312

在线出版日期：2015-05-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：241-245