Cu(100)表面吸附HCN和HNC的密度泛函研究
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3321/j.issn:0567-7351.2003.04.004

Cu(100)表面吸附HCN和HNC的密度泛函研究

引用
采用密度泛函方法,以原子簇Cu14为模拟表面,对氢氰酸(HCN)和异氰酸(HNC)在Cu(100)表面上不同吸附位的吸附情况进行了研究.结果表明:HCN和HNC分别通过原子N和C垂直吸附在表面上时,顶位是其最佳吸附位,且是吸附能为18.5 kJ·mol-1和42.6 kJ·mol-1的弱吸附,计算结果与实验相符.C-N(HCN)键或N-C(HNC)键偏离垂直的分子轴线的吸附体系均不稳定.顶位吸附时HCN和HNC分子的C-N键振动频率均发生蓝移.

密度泛函、Cu(100)表面、HCN、HNC、吸附

61

O641(物理化学(理论化学)、化学物理学)

国家自然科学基金29973006,20273013;福建省自然科学基金E0110011

2004-08-06(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

476-480

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

化学学报

0567-7351

31-1320/O6

61

2003,61(4)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn