端接配体原子的电负性对磁耦合作用的影响

摘要：

应用微扰理论,分析了端接配体原子的电负性对体系磁耦合作用的影响.研究表明,随着端接配体原子电负性的增大,磁中心间的耦合作用减弱.应用密度泛函理论和对称性破损方法对双核铜(Ⅱ)模型体系进行了计算,计算结果验证了上述结论.

关键词：端接配体、电负性、磁耦合、密度泛函、对称性破损近似

所属期刊栏目：60

分类号：O6(化学)

资助基金：国家自然科学基金29831010,20023005;国家重点基础研究发展计划973计划G19983105;中国博士后科学基金;山东省自然科学基金Z2000B0Y2

在线出版日期：2004-08-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：1794-1797