X射线荧光光谱中影响理论计算相对强度的主要因素

摘要：

提高理论相对强度计算准确度对X射线荧光定量分析及基体效应的数学校正至关重要.本文对X射线荧光光谱中影响理论计算相对强度的几种主要因素进行了探讨.考察了谱仪几何因子的不准确性对理论相对强度的影响,用三种不同来源的X光管原级谱强度分布计算和比较了一系列谱线的相对强度,通过详细考察发现不同作者发表的质量吸收系数之间及其与实测值之间在三个区域存在显著差异,并比较了用四种常用质量吸收系数算法计算的一系列谱线的相对强度,根据不同作者的激发因子算法编制了相应的计算机程序,对Kα,Lα和Mα的激发因子考察了它们之间的差异.

关键词：X射线荧光光谱、理论计算强度、基本参数法、质量吸收系数

所属期刊栏目：56

分类号：O6(化学)

资助基金：国家自然科学基金29475218

在线出版日期：2005-07-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：873-879