粉末压片-X射线荧光光谱法测定石墨中的杂质组分

摘要：

采用了非破坏性、无需化学消解试样的固体粉末压片-X射线荧光光谱法测定石墨中8种杂质组分SiO2、Al2O3、Fe2O3、CaO、MgO、MnO、P2O5、TiO2的质量分数.使用国家标准物质(GBW03118-03120,ZBM150-154)建立了校准曲线,优化了粉末压片制样条件.测定石墨标准物质各组分的相对标准偏差(RSD)在0.8％～4.86％之间,测定值与标准值相符,且与电感耦合等离子发射光谱的对比测定结果一致.

关键词：粉末压片、X射线荧光光谱、石墨

所属期刊栏目：61

分类号：O621.256.4(有机化学)

在线出版日期：2020-04-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：110-115