X射线荧光光谱法测定高盐背景地质样品中的19元素

摘要：

采用粉末压片-X射线荧光光谱法直接测定高盐背景地质类样品的主次量元素(Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P、K2O、CaO、Ti、Mn、TFe2O3、Cu、Cr、Ba、Nb、Zr、Y、Sr、Pb、Zn),选取国家一级标准物质和人工混配标样建立满足高盐背景地质类样品的分析工作曲线,选取最佳的仪器工作条件和各元素的分析参数,保持标准样品与被分析样品的基体一致性,合理选择分析元素曲线含量梯度,采用经验系数法和康谱顿散射线内标法进行基体校正.

关键词：高盐背景、人工混配、含量梯度、基体校正

所属期刊栏目：34

分类号：O657.34(分析化学)

资助基金：青海省重点研发与转化计划项目;青海省财政科技专项资金

在线出版日期：2020-05-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：16-18