X射线荧光光谱法测定土壤样品中C和N等30个主次痕量元素

摘要：

采用PVC环的粉末样品压片制样,用RIGAKU ZSX Primus Ⅱ型X射线荧光光谱仪对土壤样品中的C、N、Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P、S、Cl、K2O、CaO、Ti、V、Cr、Mn、TFe2O3、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Nb、Zr、Y、Sr、Rb、Pb、Th、Ba和Br等30个组分进行测定.重点研究了C、N、Cl、S等元素的测定条件、痕量元素的背景选择和谱线重叠校正问题.使用经验系数法和康普顿散射线、背景散射线作内标校正基体效应.经国家一级标准物质校验,方法的检出限、精密度和准确度,满足多目标地球化学调查样品的分析要求.

关键词：碳、氮、氯、硫、土壤样晶、X射线荧光光谱法

所属期刊栏目：23

分类号：O657.3(分析化学)

在线出版日期：2009-08-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：44-48