电感耦合等离子体原子发射光谱法测定Si-B-C-N陶瓷材料中的硅和硼

摘要：

建立了电感耦合等离子体原子发射光谱法同时测定Si-B-C-N陶瓷材料中硅和硼元素含量的方法.将Si-B-C-N陶瓷材料粉碎过孔径为75 μm(200目)的筛并于160℃烘干1 h,称取50 mg样品,置于镍坩埚中,加入1.5 g氢氧化钾,以650℃高温熔融,冷却后用稀硝酸浸取熔融物,用水定容至200 mL.采用Burgener雾化器提高雾化效率,以钾盐进行基体匹配,以元素钇作为内标进行定量.硅(硼)的质量浓度与硅(硼)元素和内标元素的谱线强度比具有良好的线性关系,硅元素的检出限为0.000 4 mg/mL,硼元素的检出限为0.000 06 mg/mL.硅、硼元素测定结果的相对标准偏差均不大于1.0%(n=6),实际样品加标回收率为95.1%～97.1%.该方法硅、硼的测定结果与GJB 1679A—2008《高硅氧玻璃纤维纱规范》中二氧化硅含量测试方法和JB/T 7993-1999《碳化硼 化学分析方法》中总硼含量的测试方法的测定结果一致.该方法适用于批量样品的检测.

关键词：硅硼碳氮陶瓷产品、电感耦合等离子体原子发射光谱法、硅、硼

所属期刊栏目：32

分类号：O657.3(分析化学)

在线出版日期：2023-08-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：7-11