电感耦合等离子体原子发射光谱法测定生铸铁中硅

摘要：

建立采用电感耦合等离子体原子发射光谱法测定生铸铁中硅含量的方法.样品采用硫酸-硝酸-水(体积比为50:8:942)溶液溶解后直接稀释定容,选择Si 212.412 nm分析谱线进行测量.硅的质量浓度在0～4％ 范围内与光谱发射强度线性关系良好,相关系数为0.9998,方法的检出限为0.001％.对3个标准样品进行测定,测定结果的相对标准偏差为0.18％～0.21％(n=10),相对误差为 –0.65％～1.10％.样品加标回收率为96％～103％.该方法分析速度快,测量结果准确可靠,满足日常分析要求.

关键词：电感耦合等离子体原子发射光谱法、生铸铁、硅

所属期刊栏目：29

分类号：O657.3(分析化学)

在线出版日期：2020-07-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：59-61