ICP-OES常见干扰类型及校正方法探讨

摘要：

电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)越来越多地应用于各类物质的分析检测.测定复杂样品时,仪器出现各种干扰问题是影响测定结果准确性的主要因素.根据仪器原理及样品进入ICP的顺序,对可能出现的化学干扰、物理干扰、记忆效应、电离干扰和光谱干扰进行原因分析.结合具体实例探讨各类干扰相应的校正方法,可以较好地消除干扰对测定结果的影响.

关键词：电感耦合等离子体发射光谱仪、干扰、校正

所属期刊栏目：25

分类号：O657.3(分析化学)

在线出版日期：2016-07-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：73-76