10.3969/j.issn.1008-6145.2012.01.027
田口方法在X射线荧光分析时曲线校正中的应用
根据田口玄一博士在测量工程学中提出的信噪比概念,计算了X荧光分析中某一标准曲线极限信噪比.当日常测试中系统的信噪比大于极限值时,不需要对曲线进行校正;当日常测试中系统的信噪比小于极限值时,应对曲线进行校正,以保证该测量系统工作的稳定性.
信噪比、漂移、校正、X射线荧光分析
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O657-34(分析化学)
2012-07-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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