X-射线荧光光谱法分析硅质耐火材料的主次成分

摘要：

采用硅石标准样品作为校准样品,建立了熔融制样X-射线荧光光谱法测定硅质耐火材料中SiO2、Al2O3、CaO、MgO、P2O5、Fe2O3、TiO2、K2O、Na2O的方法.采用熔融法为样品片和校准片的制备方法,选择四硼酸锂-偏硼酸锂(质量比为67∶33)为助熔剂,1.00mL LiBr溶液为脱模剂,熔融温度1100℃,熔融时间20min.采用理论α系数对基体效应进行校正.对同一硅石样品进行测定,结果的相对标准偏差小于3%(n=10),对不同硅石标准样品进行测定,测定结果与认证值相吻合.

关键词：X-射线荧光光谱、硅质耐火材料、熔融制样

所属期刊栏目：20

分类号：TQ1;O65

在线出版日期：2011-11-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：43-45