X-射线荧光光谱法测定钛铁中的硅、锰、磷、铝

摘要：

介绍用X-射线荧光光谱仪测定钛铁中Si、Mn、P、Al含量的方法,通过试验确定了合适的研磨时间、压力和保压时间,用压片法制样,建立了各元素的工作曲线,各元素的测定范围分别为Si 3.00%～6.00%,Mn 1.00%～3.00%,P 0.030%～0.070%,Al 5.00%～9.00%.通过强度测量得到测定Si、Mn、P、Al的相对标准偏差分别为0.074%、0.308%、0.383%、0.040%,精密度满足测试要求.将该方法测定结果与化学法比对,准确度满足国家标准方法分析误差的要求.

关键词：X-射线荧光光谱仪、压片法、钛铁、硅、锰、磷、铝

所属期刊栏目：16

分类号：O6(化学)

在线出版日期：2007-09-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：47-48