彩色高反光物体表面三维形貌测量技术

摘要：

基于相位计算的光学三维形貌测量技术通过编码条纹图获取物体表面的三维形貌.而彩色高反光物体因表面颜色、曝光程度的不同,导致投射在物体表面的条纹出现调制度不同以及曝光程度不同的双重难题,传统条纹投影轮廓术无法对其进行有效的三维测量.论文提出一种采用多通道预处理二分选择曝光时间法测量彩色高反光物体三维形貌.该方法通过预处理选择曝光时间域,利用二分选择曝光时间,采集四组不同曝光条纹即可恢复物体表面绝对相位.然后采集对应曝光时间下的条纹图像,经过像素选择,实现对过曝像素的处理.将处理过的像素信息在三颜色通道下进行最优光强和颜色选择,生成彩色条纹图.融合各颜色通道内最优相位,从而获取彩色高反光物体表面的绝对相位.最后确定相位和深度之间的关系,即可得到物体表面的三维数据.实验结果证明所提方法可有效测量彩色高反光物体表面的三维形貌数据.

关键词：彩色高反光、三维测量、条纹投影、相位解算

所属期刊栏目：52

分类号：TH741(仪器、仪表)

在线出版日期：2023-10-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：249-256