基于韦布尔分布和对数正态分布的高功率半导体激光器寿命估计和失效分析研究

摘要：

分别采用韦布尔分布和对数分布模型对额定功率60 W(cW条件下)的808 nm铟焊料封装的传导冷却型单巴高功率半导体激光器在恒定电流条件下进行的三个不同温度的加速老化试验数据进行分析并估计了常温下的寿命.在韦布尔分布统计分析中计算了各温度下器件的特征寿命和统计平均寿命,发现早期失效情况下形状参数小于l且数学平均寿命的计算方法误差加大,不如使用统计平均的方法.在对数分布统计分析中计算了各温度下器件的中位寿命和统计平均寿命,发现早期失效下的对数标准差较大且影响统计平均寿命的计算,这种情况不适合用对数正态分布估计寿命.最后对不同时期的加速寿命器件进行了失效分析.

关键词：高功率半导体激光器、热加速老化试验、韦布尔分布、对数正态分布、失效分析

所属期刊栏目：48

分类号：TN248.4(光电子技术、激光技术)

资助基金：国家自然科学基金61334010

在线出版日期：2019-07-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：64-71