同轴全反红外光学系统自身热辐射测量方法
对红外光学系统自身热辐射进行了评估方式、计算方法和实验测量研究.首先,介绍并比较了两种自身热辐射的评估方式,即有效发射率和等效黑体辐射温度;其次,详细介绍了基于实验结果的自身热辐射的等效黑体辐射温度的计算方法;最后,利用自身热辐射测试平台,对同轴全反型红外光学系统的自身热辐射进行测量实验,并进行了误差分析计算.结果表明:自身热辐射的辐射出射度与光学系统有效F数的平方成正比关系,与透过率成反比关系,和自身热辐射的灰度输出与积分时间之间的线性系数成正比关系,计算出该同轴全反型红外光学系统的自身热辐射的等效黑体辐射温度为217.3 K,经测量和计算出背景模拟板的辐射亮度误差为8.5%,自身热辐射的灰度输出与积分时间的线性拟合系数的相对不确定度为0.2%,并说明探测器在5×10-4 Pa中具有良好的稳定性.
红外系统、自身热辐射、等效黑体辐射温度
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TN219(光电子技术、激光技术)
2018-02-06(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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119-125