激光脉冲串对电荷耦合器件积累损伤效应研究

摘要：

为了研究激光脉冲串对光电系统的损伤和致盲机理,开展了重频纳秒激光对黑白行间转移相机电荷耦合器件的损伤实验研究.实验结果表明:存在两种积累损伤效应机理,多个脉冲到达CCD靶面同一位置的损伤或致盲具有积累效应,多个脉冲积累损伤能够显著降低线损伤和全靶面损伤阈值,降低程度与脉冲个数、激光到靶能量密度有关.致盲机理与单脉冲致盲机理相同,均表现为器件垂直转移电路间及地间的短路;而激光脉冲串到达CCD靶面的不同位置也能够实现器件的功能性失效,其机制与单脉冲损伤显著不同,仅表现为线损伤的叠加,并未造成器件电路紊乱,功能性损伤阈值即对应线损伤阈值660 mJ/cm2,而小于单次致盲阈值1500~2200 mJ/cm2.

关键词：脉冲激光、损伤机理、电荷耦合器件、功能性失效

所属期刊栏目：46

分类号：TN249(光电子技术、激光技术)

资助基金：激光与物质相互作用国家重点实验室自主基金课题SKLLIM-1503;光电对抗测试评估技术重点实验室开放课题GKCP2016004

在线出版日期：2017-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：6-11