采样红外成像系统的混淆效应研究

摘要：

对红外焦平面阵列而言,欠采样产生的混淆效应严重影响成像质量.基于红外焦平面阵列的成像过程,在时间域分析了探测器的采样过程,在频率域定量研究了混淆效应对图像的影响,根据混淆产生的机理,分别对周期目标和非周期目标进行仿真实验.实验结果表明:对周期目标会有混淆失真现象,改变了图形的几何形状,对于非周期图像会产生锯齿条纹.指出在低空间频率内混淆影响小,噪声对图像的影响占主导地位,而在高空间频率内混淆失真严重,噪声影响小,这对消除图像混淆的影响、系统参数设计等方面具有一定的参考价值.

关键词：欠采样、混淆效应、红外成像系统、三维噪声、频谱

所属期刊栏目：45

分类号：TN216(光电子技术、激光技术)

资助基金：国家自然科学基金61303192;"十二五"总装预研项目51303020403-3

在线出版日期：2016-06-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：103-108