10.3969/j.issn.1007-2276.2015.05.009
微小卫星单粒子闩锁防护技术研究
对于在轨微小卫星而言,单粒子闩锁(Single Event Latchup,SEL)是最具破坏性的单粒子效应之一,其后果轻则损坏器件,重则使在轨卫星失效。首先介绍了SEL发生机理,分析并总结现有抗SEL的关键技术。其次提出了空间单粒子闩锁防护措施并设计了一种可恢复式抗SEL电源接口电路,实现对卫星星上设备的防闩锁及过流保护。最后利用脉冲激光模拟单粒子效应技术对具有飞行经验的芯片进行实验测试。实验结果表明,该电路能够准确地检测SEL的发生,有效解除SEL效应,保证系统运行稳定可靠。
微小卫星、单粒子闩锁、过流保护、可恢复式、脉冲激光
TN406(微电子学、集成电路(IC))
CAST创新基金CAST20100604
2015-08-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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