10.3969/j.issn.1007-2276.2015.03.022
基于激光相控阵原理的相位调制器半波电压测量方法
半波电压是电光相位调制器的一个重要指标,针对现有半波电压测量方法存在的测量误差大、测量装置复杂等问题,提出了基于激光相控阵光束扫描原理的半波电压测量方法。通过理论分析,得到了远场主光束的偏移量和相位调制器半波电压的关系表达式。搭建了1×2全光纤激光相控阵光路,对铌酸锂波导相位调制器的半波电压进行了实验测量,改变相位调制器的加载电压,记录多幅远场光强分布图,通过求平均值减小测量误差,而且根据远场光强分布的变化得到了相位调制特性曲线。结果表明,该方法测量装置简单,不仅可以精确地测量半波电压,还可以对相位调制线性度进行分析,具有重要的工程应用价值。
半波电压、激光相控阵、相位调制、测量
TN256(光电子技术、激光技术)
国家自然科学基金61372061,51477028,61475011,61307010,61205010;高等学校博士学科点专项科研基金20121103120003;北京市教育委员会科技项目KM201310005031;北京市属高等学校高层次人才引进与培养计划项目CIT&TCD201504020;日新人才、中央支持地方专项配套项目和北京工业大学研究生科技基金ykj-2013-10519
2015-04-27(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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