月基望远镜杂散光PST研究与测试

摘要：

针对月基望远镜(LOT)杂散光抑制能力的验证，在地面采用点源透过率法对其遮光罩视场外杂散光抑制比进行了测试，并利用光学系统视场外不同离轴角的点源透过率(PST)来评价其杂散光抑制比。该PST测试方法突破了以往的杂散光测试方法，采用高精度星模拟器与EMCCD结合的思路，保证了探测器在其线性区域内具有大动态范围探测能力的特性，其动态探测范围可达1012，可满足指标PST(在22°离轴角)测试值10-7的要求。该方法能更客观、更直接地反应遮光罩的杂散光抑制能力，其PST(在22°离轴角)测试不确定度可优于60%，远远高于以往杂散光抑制比的测试精度。另外，讨论了该测试方法需改进的几点措施，PST测试预期目标可达10-12。最后通过试验对LOT相机遮光罩的杂散光抑制比进行测试，验证了LOT相机杂散光抑制比满足设计要求。

关键词：杂散光、遮光罩、点源透过率、离轴角

分类号：TN23;TH743(光电子技术、激光技术)

资助基金：探月工程二期项目

在线出版日期：2014-05-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：1289-1295