红外面阵探测器DTDI技术的性能分析

摘要：

戽链(BBD)结构的CMOS红外模拟TDI探测器，由于其兼容普通CMOS工艺，并可以提高系统的信噪比，因而在空间遥感领域得到了广泛的应用。而基于焦平面面阵的数字TDI(Digital Time Delay and Integration)技术的研究与应用尚在起步阶段。利用中国生产的320×256中波面阵红外探测器进行DTDI研究，对比分析了模拟TDI探测器的电子转移效率、BBD噪声、动态范围等方面的性能，突出了DTDI在结构和性能上的优势，并通过理论推导了DTDI对面阵探测器本身信噪比的提高，非均匀性的改善，同时分析了DTDI过程中盲元对性能的影响。最后，通过实验得到了16级DTDI的信噪比增加为2.5倍，非均匀性减少到1.68%，验证了DTDI技术对系统性能的改善，为DTDI技术的应用提供了理论参考。

关键词：DTDI、红外面阵、BBD、信噪比、非均匀性

分类号：TN219(光电子技术、激光技术)

在线出版日期：2014-05-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：1025-1031