10.3969/j.issn.1007-2276.2013.10.045
采用光热失调技术的光学薄膜吸收均匀性测量系统
由于大口径光学薄膜的应用越来越广泛,其吸收损耗的均匀性测量越来越重要。文中首次根据光热失调技术的基本原理,使用Visual Basic 6.0编写控制程序,搭建一套采用连续激光作为加热光源的光热失调技术的实验系统,实现了样品表面各点光热信号的自动采集与处理,并根据测量结果绘制出用于相对吸收均匀性研究的图像。结果表明该实验系统实现了自动控制,运行稳定、测量准确,能够用于光学薄膜相对吸收均匀性的分析。该系统的建立为光热失调技术的进一步应用提供了实验基础。
光学薄膜、吸收、均匀性、光热失调技术
O484.4(固体物理学)
国家自然科学基金项目60907041,61205149
2013-11-27(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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2842-2845