10.3969/j.issn.1007-2276.2013.09.024
基于ICCD的高压电晕放电紫外光谱检测
对高压电器局部自持放电的光强谱系的强度分布进行了分析,建立了高压电晕放电紫外光谱特征谱线下光强与探测距离的关系,并采用紫外光谱功率法对高压电气设备的电晕放电进行了实验研究。实验系统包括针极放电装置及ICCD探测器,通过光纤传输对日盲区紫外光谱进行探测。试验中调整光纤探头位置,分别改变光纤探头垂直距离和光纤探头距中心点左右偏移距离,采集相应的紫外光谱,并对波长为262.773 nm、265.456 nm 和274.435 nm处的光谱强度与偏移位置之间的关系进行数据拟合,拟合后的指数函数形式与理论分析相吻合。对采集的紫外光谱数据采用Burg递推算法进行功率谱估计,发现大约350 Hz的功率谱密度可作为特征参量,表明了对电晕放电点识别的可行性。
电晕放电、ICCD探测器、紫外光谱、功率谱密度
TM835(高电压技术)
国家自然科学基金51309001,61201109,51007002;安徽省高校省级科学研究重点项目KJ2013A055
2013-10-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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